İanələr 15 sentyabr 2024 – 1 oktyabr 2024 Vəsaitlərin toplanılması haqqında

Физическое материаловедение : учебник для студентов высших...

Main
Physics
Физическое материаловедение : учебник...

Физическое материаловедение : учебник для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению Ядерные физика и технологии : в шести томах

[В. В. Нечаев и др.], под общ. ред. Б. А. Калина, Нечаев, В. В., Калин, Борис Александрович, ред

0 / 0

Bu kitabı nə dərəcədə bəyəndiniz?

Yüklənmiş faylın keyfiyyəti necədir?

Kitabın keyfiyyətini qiymətləndirə bilmək üçün onu yükləyin

Yüklənmiş faylların keyfiyyəti necədir?

Kateqoriyalar:

İl:

2008

Nəşriyyat:

МИФИ

Dil:

russian

Səhifələr:

808

ISBN 10:

5726208218

ISBN 13:

9785726208213

Seriyalar:

Библиотека ядерного университета / Федеральное агентство по образованию, Московский инженерно-физ. ин-т

Fayl:

PDF, 11.16 MB

IPFS:

,

russian, 2008

Onlayn oxumaq

formatına konvertasiya yerinə yetirilir

formatına konvertasiya baş tutmadı

Bəlkə Sizə maraqlıdır

Ковба Л.М., Трунов В.К. — Рентгенофазовый анализ.

Папко, Людмила Федоровна — Физико-химические методы исследования неорганических веществ и материалов

Бычков Петр Степанович, — Физико-химические методы исследования. Методические указания к лабораторным работам : учебно-методическое пособие

коллектив авторов. — Локальные методы анализа материалов

Авксентьев Ю.И. и др. — Физика твердого тела. Структура твердого тела и магнитные явления. Спецпрактикум.

Э.В. Суворов — Физические основы экспериментальных методов исследования реальной структуры кристаллов : учеб. пособие.

Э.В. Суворов — Методы исследования реальной структуры и состава материалов: Учебно- методический комплекс дисциплины.

Иверонова В.И., Ревкевич Г.П. — Теория рассеяния рентгеновских лучей

Суворов Э. В. — Физические основы экспериментальных методов исследования реальной структуры кристаллов: учеб. пособие

Николичев Д. Е., Боряков А. В., Суродин С. И., Крюков Р. Н. — Анализ твёрдотельных гетеронаносистем методом РФЭС: Учебно-методическое пособие

Черноруков Н. Г., Нипрук О. В. — Теория и практика рентгенофлуоресцентного анализа: Электронное учебно-методическое пособие

Суворов Э. В. — Физические основы экспериментальных методов исследования реальной структуры кристаллов: учеб. пособие

Скотт В. (ред) — Количественный электронно-зондовый микроанализ

Русаков А.А. — Рентгенография металлов

Уманский Я. С., Скаков Ю. А., Иванов А. Н., Расторгуев Л. Н. — Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия

Кацнельсон А.А., Кринчик Г.С. — Физика твердого тела. Структура твердого тела и магнитные явления. Спецпрактикум

Малви Т. — Количественный электронно-зондовый микроанализ.

Амелкинс С. — Дифракционные и микроскопические методы в материаловедении.

Вангенгейм С.Д. — Видимое невидимое.

Уманский Я.С. — Рентгенография металлов

Батулин Р.Г. и др. — Проведение синхротронных и нейтронных исследований.

Ковба Л.М. — Рентгенофазовый анализ

Тейлор А. — Рентгеновская металлография

Пинес Б.Я. — Лекции по структурному анализу

Бублик В.Т., Дубровина А.Н. — Сборник задач и упражнений по курсу ’’Методы исследования структуры

Черноруков Н.Г., Нипрук О.В. — Теория и практика рентгенофлуоресцентного анализа

Чупрунов Е.В., Фаддеев М.А., Алексеев Е.В. — Рентгеновские методы исследования твёрдых тел

Батаев А.А., Батаев В.А. и др. — Физические методы контроля качества материалов

Асеев В.А., Золотарев В.М., Никоноров Н.В. — Приборы и методы исследования наноматериалов фотоники

Дулов Е.Н., Ивойлов Н.Г. — Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ: конспект лекций

Биркс Л.С. — Рентгеновский микроанализ с помощью электронного зонда

коллектив авторов — Методы и приборы для анализа электронных компонентов в микро - и наномасштабе

Мышкин В.Ф., Хан В.А. — Спектральные методы исследований

Асеев В.А., Золотарев В.М., Никоноров Н.В. — Приборы и методы исследования наноматериалов фотоники

Коллектив авторов — Рентгенография и микроскопия. Рентгенография металлов

Açar ifadələr

электронов

излучения

поверхности

рассеяния

рентгеновских

кристалла

плоскости

интенсивность

интенсивности

изображения

элементов

определяется

обратной

поглощения

рентгеновского

излучение

коэффициент

отражения

позволяет

электрона

определения

значения

элемента

распределения

результате

структуры

зависимости

измерения